Urteil des BPatG vom 06.06.2005

Herunterladen

Gericht

Bundespatentgericht

Aktenzeichen

21 W (pat) 322/05

Entschieden

06.06.2005

Schlagworte

Stand der technik , Messung , Patentanspruch , Verbindung , Gegenstand , Fachmann , Patent , Analyse , Bezug , Umfang

BPatG (stand der technik, messung, patentanspruch, verbindung, gegenstand, fachmann, patent, analyse, bezug, umfang)

BPatG 152

08.05

BUNDESPATENTGERICHT

21 W (pat) 322/05

_______________________

(Aktenzeichen)

B E S C H L U S S

In der Einspruchssache

gegen das Patent 100 04 628

…

- 2 -

…

hat der 21. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts am

29. Juli 2010

unter

Mitwirkung

des

Vorsitzenden

Richters

Dipl.-Phys. Dr. Winterfeldt sowie der Richter Baumgärtner, Dipl.-Ing. Bernhart und

Dipl.-Phys. Dr. Müller

beschlossen:

Das Patent DE 100 04 628 wird widerrufen.

G r ü n d e

Gegen das am 3. Februar 2000 angemeldete Patent (Streitpatent) mit der Be-

zeichnung "Vorrichtung und Verfahren zur Analyse von Mehrkanalbauteilen sowie

zugehöriges Kalibrierungsverfahren", dessen Erteilung am 17. März 2005 veröf-

fentlicht

worden

ist,

hat

die

Fa. R… GmbH & Co. KG,

M…stra-

ße

M…

mit

Schriftsatz

vom

6. Juni 2005,

eingegangen

beim

DPMA am 9. Juni 2005, Einspruch eingelegt.

Sie ist der Auffassung, dass der Gegenstand des Streitpatents nicht patentfähig

sei. Hierzu verweist sie unter anderem auf die Entgegenhaltungen

sign Need", in: Microwave System News, Juni 1980, Sei-

ten 67, 70, 72, 74 - 76, 80 und 83 - 86

- 3 -

und

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques,

Vol. 41, Nr. 6/7, June/July 1993, Seiten 974 - 978.

Die Einsprechende macht geltend, dass die Gegenstände der erteilten nebenge-

nehmbaren Stand der Technik nicht neu seien und der Gegenstand des Patentan-

auf einer erfinderischen Tätigkeit beruhe. Die Gegenstände der Patentansprü-

che 14 und 20 erachtet sie zudem als von einem Fachmann nicht ausführbar.

Auch in den jeweiligen Unteransprüchen sieht sie keine erfinderischen Maßnah-

men offenbart.

Die erteilten Patentansprüche 1, 10, 14 und 20 lauten gegliedert:

Anspruch 1

M1.1

Mehrkanalbauteil-Analysevorrichtung zum Prüfen eines ei-

ne Vielzahl von Anschlüssen aufweisenden Mehrkanal-

bauteils, enthaltend

M1.2

- eine Signalquelle zur Zuführung eines Prüfsignals zu ei-

nem der Anschlüsse eines zu prüfenden Mehrkanalbau-

teils (DUT);

M1.3

- eine Vielzahl von Prüfkanälen, die es ermöglicht, alle An-

schlüsse eines Mehrkanalprüflings (DUT) mit einem ent-

sprechenden Prüfkanal zu verbinden;

- 4 -

M1.4

- eine Vielzahl von Messeinheiten zum Messen von Signa-

len von den entsprechenden, mit den jeweiligen Anschlüs-

sen des Mehrkanalprüflings (DUT) verbundenen Prüfkanä-

len;

M1.5

- eine Referenzsignal-Messeinheit zum Messen des Prüf-

signals zur Erzeugung von Referenzdaten hinsichtlich der

mit Hilfe der Vielzahl von Messeinheiten durchgeführten

Messung der vom Prüfkanal kommenden Signale;

M1.6

- eine Vielzahl von Abschlusswiderständen, von denen je-

der jeweils einem der Prüfkanäle zugeordnet ist; und

M1.7.1

zu einem der Prüfkanäle (Eingabeprüfkanal) und

M1.7.2

stands mit dem Eingabeprüfkanal und gleichzeitigem Ver-

binden der Abschlusswiderstände mit allen anderen Prüf-

kanälen;

M1.8

- wobei Parameter des Mehrkanalprüflings ermittelt wer-

den, ohne dass die Verbindungen zwischen den Prüfkanä-

len und den Anschlüssen des Bauteilprüflings verändert

werden, während mit Hilfe der Schaltmittel jeweils ein an-

derer Prüfkanal ausgewählt wird, bis alle Prüfkanäle als

Eingabeprüfkanal herangezogen wurden.

- 5 -

Anspruch 10:

M2.1

Verfahren zur Messung von Parametern eines Mehrkanal-

bauteils mit Hilfe einer Mehrkanalbauteil-Analysevorrich-

tung, wobei das Verfahren die folgenden Verfahrensschrit-

te enthält:

M2.2

a) Bestimmung von Fehlerkoeffizienten der Mehrkanal-

bauteil-Analysevorrichtung ohne den Mehrkanalbauteil-

prüfling (DUT) an Prüfkanäle der Mehrkanalbauteil-Analy-

sevorrichtung anzuschließen;

M2.3

b) Verbinden aller Kanäle des Mehrkanalbauteilprüflings

mit entsprechenden Prüfkanälen der Mehrkanalbauteil-

Analysevorrichtung;

M2.4.1

Mehrkanalbauteilprüflings durch einen ausgewählten Prüf-

kanal (Eingabeprüfkanal),

M2.4.2

lings durch zur Mehrkanalbauteil-Analysevorrichtung ge-

hörende Abschlusswiderstände abgeschlossen sind;

M2.5

d) Messen von Signalen, die die Kanäle des Mehrkanal-

bauteilprüflings durch die entsprechenden Prüfkanäle der

Mehrkanalbauteil-Analysevorrichtung senden, mit Hilfe zu-

gehöriger Messeinheiten; und

- 6 -

M2.6

e) Wiederholen der Arbeitsschritte c) und d) zur Bestim-

mung von Parametern des Mehrkanalbauteilprüflings, oh-

ne dabei die Verbindungen zwischen der Mehrkanalbau-

teil-Analysevorrichtung und dem Mehrkanalbauteilprüfling

zu verändern, während nacheinander jeweils ein anderer

Prüfkanal ausgewählt wird, bis alle Prüfkanäle als Einga-

beprüfkanäle herangezogen wurden.

Anspruch 14:

M3.1

Dreikanalbauteil-Analysevorrichtung zum Prüfen eines

Dreikanalbauteils, enthaltend

M3.2

- eine Signalquelle zur Zuführung eines Prüfsignals zu ei-

nem der Anschlüsse eines zu prüfenden Dreikanalbau-

teils (DUT);

M3.3

- drei Prüfkanäle, die eine Verbindung jedes Anschlusses

des Dreikanalbauteils (DUT) mit einem entsprechenden

Prüfkanal ermöglichen;

M3.4

- drei Messeinheiten zum Messen von Signalen von den

entsprechenden, mit den jeweiligen Kanälen des Mehrka-

nalprüflings (DUT) verbundenen Prüfkanälen;

M3.5

- eine Referenzsignal-Messeinheit zum Messen des Prüf-

signals zur Erzeugung von Referenzdaten hinsichtlich der

mit Hilfe der drei Messeinheiten durchgeführten Messung

der vom Prüfkanal kommenden Signale;

- 7 -

M3.6

- drei Abschlusswiderstände, von denen jeder jeweils ei-

nem der Prüfkanäle zugeordnet ist; und

M3.7.1

zu einem der Prüfkanäle (Eingabeprüfkanal) und

M3.7.2

stands mit dem Eingabeprüfkanal und gleichzeitigem Ver-

binden der Abschlusswiderstände mit allen anderen Prüf-

kanälen;

M3.8

- wobei Parameter des Bauteilprüflings ermittelt werden,

ohne dass die Verbindungen zwischen der Dreikanalbau-

teil-Analysevorrichtung und dem Bauteilprüfling verändert

werden, während mit Hilfe der Schaltmittel jeweils ein an-

derer Prüfkanal ausgewählt wird, bis alle Prüfkanäle als

Eingabeprüfkanal herangezogen wurden.

Anspruch 20:

M4.1

Dreikanalbauteil-Analysevorrichtung zur Prüfung eines

Dreikanalbauteils, enthaltend

M4.2

- eine Signalquelle zur Zuführung eines Prüfsignals zu ei-

nem der Kanäle eines zu prüfenden Dreikanalbau-

teils (DUT);

M4.3

- drei Prüfkanäle, die eine Verbindung der drei Kanäle des

Dreikanalprüflings (DUT) mit einem entsprechenden Prüf-

kanal ermöglichen;

- 8 -

M4.4

- zwei Messeinheiten zum Messen von Signalen von zwei

zugehörigen Prüfkanälen, die mit zwei entsprechenden

Anschlüssen des Bauteilprüflings (DUT) verbunden sind;

M4.5

- eine Referenzsignal-Messeinheit zum Messen des Prüf-

signals zur Erzeugung von Referenzdaten hinsichtlich der

von den zwei Messeinheiten durchgeführten Messung der

Signale vom Prüfkanal;

M4.6

- einen Abschlusswiderstand;

M4.7

- erste Schaltmittel zur wahlweisen Verbindung eines der

Prüfkanäle (erster Prüfkanal) mit dem Abschlusswider-

stand; und

M4.8

- zweite Schaltmittel zur wahlweisen Zuführung des Prüf-

signals zu einem der Prüfkanäle (zweiter Prüfkanal), der

einen Eingabesignal-Prüfkanal bildet;

M4.9

- wobei Parameter des Bauteilprüflings ermittelt werden,

ohne dass die Verbindungen zwischen der Dreikanalbau-

teil-Analysevorrichtung und dem Bauteilprüfling verändert

werden, indem Signale vom zweiten Prüfkanal und dem

verbleibenden Prüfkanal (dritter Prüfkanal) gemessen wer-

den, während mit Hilfe der zweiten Schaltmittel jeweils ein

anderer Prüfkanal ausgewählt wird, bis alle Prüfkanäle als

Eingabesignal-Prüfkanal herangezogen wurden.

Die Unteransprüche 2-9, 11-13, 15-19 und 21 betreffend wird auf die Patentschrift

verwiesen.

- 9 -

Die Einsprechende beantragt,

den Widerruf des Patents DE 100 04 628 in vollem Umfang.

Die Patentinhaberin beantragt sinngemäß,

das Patent in vollem Umfang aufrecht zu erhalten.

Wegen weiterer Einzelheiten wird auf den Akteninhalt Bezug genommen.

laufen begonnen hat und der Einspruch vor dem 1. Juli 2006 eingelegt worden ist,

ist das Bundespatentgericht für die Entscheidung gemäß § 147 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1

PatG in der bis einschließlich 30. Juni 2006 gültigen Fassung weiterhin zuständig

(vgl. BGH GRUR 2007, 862 ff. - Informationsübermittlungsverfahren II; BPatG

GRUR 2007, 499 f. - Rundsteckverbinder).

urteilung des behaupteten Widerrufsgrundes maßgeblichen tatsächlichen Umstän-

de sind von der Einsprechenden innerhalb der gesetzlichen Frist im Einzelnen so

dargelegt worden, dass die Patentinhaberin und der Senat daraus abschließende

Folgerungen für das Vorliegen bzw. Nichtvorliegen eines Widerrufsgrundes ohne

eigene Ermittlungen ziehen können. Die Zulässigkeit des Einspruchs war von der

Patentinhaberin im Übrigen nicht bestritten worden.

Abs. 1 PatG einen Inlandsvertreter, der im gesetzlich bestimmten Umfang bevoll-

mächtigt ist. Auf den Hinweis im Ladungszusatz zur Ladung vom

17. Dezember 2009, in dem die Patentinhaberin darauf hingewiesen wurde, dass

- 10 -

eine derartige Vollmacht bisher nicht vorgelegt wurde, hat die Patentinhaberin mit

Eingabe vom 23. Februar 2010 mitgeteilt, dass sie an der mündlichen Verhand-

lung nicht teilnehmen und auch nicht vertreten sein wird. Mangels einer § 25

Abs. 1 PatG entsprechenden Bevollmächtigung liegt ein Verfahrenshindernis vor,

das von Amts wegen zu berücksichtigen ist und das im vorliegenden Fall zur Fol-

ge hat, dass die gestellten Anträge der Patentinhaberin in ihrer Eingabe vom

4. Mai 2006 unbeachtlich sind und die Patentinhaberin somit ihr Patent nicht mit

den in ihrer Eingabe vom 4. Mai 2006 eingereichten Patentansprüchen 1 bis 21

beschränkt verteidigen kann.

Sonach liegen dem Einspruchsverfahren weiterhin die erteilten Patentansprüche 1

bis 21 zugrunde.

ansprüche 1, 10, 14 und 20 nicht patentfähig sind. Die Gegenstände der Patentan-

sprüche 1, 10 und 14 sind gegenüber dem Stand der Technik, den die Entgegen-

gibt sich für den Fachmann, einen Diplom-Ingenieur der Fachrichtung Nachrich-

tentechnik, der sich mit der rechnergestützten Entwicklung von HF-Netzwerken,

vorliegend Mehrkanalbauteilen, befasst und der über einschlägige Berufserfah-

rung auf diesem Gebiet verfügt, in naheliegender Weise aus der Zusammenschau

Es kann daher dahinstehen, ob die Patentansprüche 1, 10, 14 und 20 durch die

ursprüngliche Offenbarung gedeckt sind und ob ihre Gegenstände den Schutzbe-

reich des Streitpatents erweitern.

4.1.

findung eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Analyse der Eigenschaften eines

drei oder mehr Anschlüsse (Kanäle) aufweisenden Mehrkanalbauteils und insbe-

sondere eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Analyse von Mehrkanalbauteilen

- 11 -

sowie ein Kalibrierungsverfahren für die Mehrkanalbauteil-Analysevorrichtung, die

eine Messung verschiedener Parameter des Mehrkanalbauteils mit hoher Effizienz

und einem großen Aussteuerbereich ermöglichen, ohne dass dabei Verbindungen

zwischen dem zu prüfenden Mehrkanalbauteil und der Analysevorrichtung verän-

dert werden müssten (vgl. Absatz [0001] der Patentschrift).

Dazu ist weiter ausgeführt, dass zur Analyse der Eigenschaften von Übertra-

gungsbauteilen und Bauelementen (Bauteileprüflingen) von Datenübertragungs-

systemen Netzwerkanalysatoren eingesetzt werden. Mit diesen werden verschie-

dene Prüfparameter, die bspw. einer Übertragungsfunktion, den Reflexionseigen-

schaften und Phaseneigenschaften eines Bauteilprüflings entsprechen, ermittelt.

Derartige Parameter werden (allg. üblich) als Streuparameter - S-Parameter - be-

zeichnet [0002]. Dazu ist weiter dargelegt, dass bei bspw. zweikanaligen Netz-

werkkanalisatoren üblicherweise jeder Kanal durch einen Schaltvorgang in den

anderen Kanal umgeschaltet wird. Anhand der Figuren 1 bis 3 wird sodann die

Wirkungsweise herkömmlicher Analyzer erläutert (ab Abs. [0003] ff.). Nachteilig

sei bei bekannten Analyzern, dass bei mehrkanaligen Prüflingen, bspw. bei einem

Dreikanalbauteil (DUT - device under test) zum Messen aller neun S-Parameter

die Prüfsignal-Ablenkung (d. h. die Umschaltung zwischen Kanälen) sechsmal

wiederholt werden muss. Dadurch würde die Messung zeitaufwändig und durch in

Reihe geschaltete Schalter entstünden zudem Signalverluste (vgl. Abs. [0015] und

Figur 3).

Die im Folgenden angegebenen mehreren Teilaufgaben [0022 - 0026] lassen sich

kurz so zusammenfassen, dass eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Verfügung

gestellt werden sollen, mit denen eine genaue Messung verschiedener Parameter

(S-Parameter) eines drei oder mehr Kanäle aufweisenden Mehrkanalbauteils in ei-

nem großen Aussteuerbereich effizient und in kurzer Zeit erfolgen kann, und zu-

dem mit einem Kalibrierungsverfahren zu ermittelnde Fehlerkoeffizienten bei der

Messung kompensiert werden.

- 12 -

4.2.

zeigt dazu anhand von Blockschaltbildern für (Mehrka-

nalbauteil-Analysevorrichtung) Vorgehensweisen für die Messung der S-Parame-

ter an den Anschlüssen zu prüfender Mehrkanalbauteile (- Device under

Test) auf. Figur 4 zeigt auf Seite 72 die Messung eines vier Anschlüsse aufwei-

senden Mehrkanalbauteils (), Figur 5 zeigt auf Seite 76

allgemein die Messung an einem Bauteil mit einer Vielzahl von Anschlüssen (

M1.1

quelle (), ein , ein (an das

das zu messende angeschlossen ist) und ein

auf.

Der enthält ferner, wie bspw. aus Figur 4 ohne Weiteres ersichtlich und

in der zugehörigen Beschreibung i. E. erläutert ist,

- eine Signalquelle () zur Zuführung des Prüfsignals zu einem der An-

schlüsse des DUT (über das und das

M1.2

- eine Vielzahl von Prüfkanälen, die das Verbinden aller Anschlüsse des DUT mit

einem entsprechenden Prüfkanal ermöglicht (bedarfsgerechte Stellungen der

Schalter S

- S

M1.3

- eine Vielzahl von Messeinheiten zum Messen von Signalen von den mit den je-

weiligen Anschlüssen des DUT verbundenen Prüfkanälen (jeweils zwei der ins-

gesamt acht identischen Messkanäle 1 - 8 des

sind für einen der insgesamt vier Prüfkanäle des DUT vorgesehen, wobei die

Kanäle 1 - 4 als TEST-Kanäle dienen (vgl. Seite 76, linke Spalte, ab dem letzen

M1.4

- 13 -

- eine Referenzsignal-Messeinheit zum Erzeugen von Referenzdaten für die von

den jeweiligen Prüfkanälen kommenden Signale (die Kanäle 5 - 8 dienen als

M1.5

- eine Vielzahl von Abschlusswiderständen, von denen jeder jeweils einem der

Prüfkanäle zugeordnet ist (Widerstände T

- T

M1.6

- Schaltmittel zur wahlweisen Zuführung des Prüfsignals zu einem der Prüfkanä-

M1.7.1

Abschlusswiderstand unterbrochen (vgl. Stellung des Schalters S

in Fig. 4) und

bei allen anderen Prüfkanälen jeweils verbunden ist (Schalter S

, S

/ Wider-

stände T

, T

M1.7.2

Ferner werden die (S-) Parameter des DUT ermittelt, ohne dass die Verbindungen

zwischen den Prüfkanälen und den Anschlüssen des DUT verändert werden, da

(lediglich) mittels der Schaltmittel zyklisch alle Prüfkanäle ausgewählt werden (vgl.

neben der in Fig. 4 gezeigten Schalterstellung auch die zug. Beschreibung, insb.

M1.8

Damit sind bereits alle Merkmale des Gegenstandes gemäß dem erteilten Patent-

4.3.

Der Gegenstand des Patentanspruchs 14 unterscheidet sich von dem auf eine

Mehrkanalbauteil - Analysevorrichtung zum Prüfen eines eine Vielzahl von An-

schlüssen aufweisenden Mehrkanalbauteils gerichteten Gegenstand des Patent-

anspruchs 1 lediglich durch die Einschränkung auf ein Dreikanalbauteil, somit ei-

nes Bauteils, dessen Kanalanzahl ohnehin dem kleinsten Wert aus einer Vielzahl

M3.1

Dreikanalbauteils angepasst, dieselben Mittel und Maßnahmen beansprucht, wie

M1.1

Die Ausführungen zum Patentanspruch 1 treffen deshalb analog auch für den Pa-

- 14 -

tentanspruch 14 zu. Zur Vermeidung von Wiederholungen wird darauf Bezug ge-

nommen.

4.4.

Bei diesem auf ein Verfahren zur Messung von Parametern eines Mehrkanalbau-

teils gerichteten Anspruch werden, abgesehen von dem die Bestimmung von Feh-

M2.2

Formulierungen lediglich dem Verfahrensanspruch Rechnung tragend, dieselben

Mittel und Maßnahmen beansprucht, wie im Sachanspruch 1 für die jeweiligen Mit-

M2.1

M2.3

M2.5

zum Patentanspruch 1 treffen deshalb auch für diese Merkmale zu. Zur Vermei-

dung von Wiederholungen wird darauf Bezug genommen.

Die Bestimmung von Fehlerkoeffizienten der Mehrkanalbauteil-Analysevorrichtung

M2.2

netzwerkes E

zwischen das und das zu vermessende

werden die aus der Fehlanpassung dazwischen resultierenden unkalibrier-

ten Streuparameter S

des in seine tatsächlichen Streuparameter S

gewandelt. Ermittelt werden die Parameter des Fehlernetzwerkes E

mit Hilfe ei-

nes Kalibrierungsverfahrens, bei dem das anstelle des

nacheinander mit einer entsprechenden Anzahl von Tor - Kalibrierungs-

standards verbunden wird (vgl. auf Seite 72 die Figur rechts oben "

und Seite 75, rechte Spalte, Abs. 2 "

" sowie Seite 83, linke Spalte, Abs. 5 "

- 15 -

4.5.

Für diesen ebenfalls auf ein Dreikanalbauteil gerichteten Anspruch treffen für die

M4.1 – M4.3

M1.1 – M1.3

M4.4

M1.4

auf die entsprechenden Ausführungen zum Patentanspruch 1 zu verweisen. Im

aufgezeigten Mittel und Maßnahmen sind nun bei der Dreikanalbauteil-

Analysevorrichtung nach Patentanspruch 20 anstatt der jeweils einem der Prüfka-

näle zugeordneten Abschlusswiderstände lediglich ein Abschlusswiderstand für

die drei Kanäle des zu prüfenden Bauteils (DUT) sowie (zum bedarfsgerechten

Beschalten des Widerstandes) erste und zweite Schaltmittel vorgesehen. Eine sol-

Der darin beschriebene ist für die Analy-

se eines Dreikanalbauteils ausgelegt (vgl. Figur 5 auf Seite 976, Befestigungsvor-

richtung - für den Dreikanalprüfling). Der weist zwei

Messkanäle 1, 2 (Messeinheiten) zum Messen der Signale von zwei zu messen-

M4.4

M4.6

gur 5). Des Weiteren sind erste Schaltmittel vorgesehen zur wahlweisen Verbin-

dung eines der Prüfkanäle mit dem Abschlusswiderstand sowie zweite Schaltmittel

zur wahlweisen Zuführung des Prüfsignals zu dem (jeweils zu messenden) Prüfka-

nal (vgl. Seite 977, rechte Spalte, Abschnitt B a, b, c "

M4.7

bauteil-Analysevorrichtung anstatt einzelner Abschlusswiderstände für jeden Prüf-

kanal zur Vereinfachung nur einen einzigen für alle Prüfkanäle vorsieht, wird er

, ebenso wie die Dreikanalbauteil-Analysevorrichtung gemäß Pa-

- 16 -

tentanspruch 20, ebenfalls auf drei Prüfkanäle ausgelegt ist. Der Fachmann ge-

langt damit ohne erfinderisches Zutun zum Gegenstand des Patentanspruchs 20.

4.6.

eine Aufrechterhaltung des Streitpatents im Umfang der Unteransprüche 2 bis 9,

11 bis 13, 15 bis 19 und 21 begehrt, hat sie weder ausdrücklich noch stillschwei-

gend zu erkennen gegeben. Darüber hinaus lassen diese Unteransprüche keine

patentbegründenden Merkmale erkennen, was die Patentinhaberin im Übrigen

auch nicht geltend gemacht hat (vgl. BGH GRUR 2007, 862 ff. - Informations-

Übermittlungsverfahren II in Fortführung von BGH GRUR 1997, 120 ff. – elektri-

sches Speicherheizgerät).

Dr. Winterfeldt

Baumgärtner

Bernhart

Dr. Müller

Pü