Urteil des BPatG, Az. 21 W (pat) 4/08

BPatG: stand der technik, wellenlänge, patentanspruch, erfindung, muster, markierung, messung, physiker, diplom, japan
BPatG 154
08.05
BUNDESPATENTGERICHT
21 W (pat) 4/08
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(Aktenzeichen)
Verkündet am
25. März 2010
B E S C H L U S S
In der Beschwerdesache
betreffend die Patentanmeldung 197 58 338.5-51
hat der 21. Senat (Technischer Beschwerdesenat) des Bundespatentgerichts auf-
grund der mündlichen Verhandlung vom 25. März 2010 unter Mitwirkung des Vor-
sitzenden Richters Dipl.-Phys. Dr. Winterfeldt sowie der Richter Baumgärtner,
Dipl.-Phys. Dr. Morawek und Dipl.-Phys. Dr. Müller
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beschlossen:
Auf die Beschwerde der Anmelderin wird der Beschluss der Prü-
fungsstelle für Klasse G 01 M des Deutschen Patent- und Marken-
amts vom 6. September 2005 aufgehoben und das Patent
DE 197 58 338 erteilt.
Bezeichnung:
Anmeldetag:
Die Priorität der Anmeldung in Japan (Az: 8 - 341840) vom 20. De-
zember 1996 ist in Anspruch genommen.
Der Erteilung liegen folgende Unterlagen zugrunde:
Patentansprüche 1 und 2, überreicht in der mündlichen Verhand-
lung vom 25. März 2010,
Beschreibung, Seiten 5-9, 12-29, überreicht in der mündlichen
Verhandlung vom 25. März 2010,
11 Blatt Zeichnungen Figuren 1 bis 10, 11a bis 11f, 12 bis 15 und
16a bis 16d, überreicht in der mündlichen Verhandlung vom
25. März 2010.
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G r ü n d e
I.
Die am 22. Dezember 1997 eingereichte Patentanmeldung mit der Bezeichnung
"Linsenmesser" ist durch Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G 01 M vom
6. September 2005 zurückgewiesen worden.
Im Prüfungsverfahren sind die Entgegenhaltungen
D1: JP 2 - 69634 A (mit englischem Abstract und englischer
Übersetzung)
D2: WO 95/34800 A1
D3: US 5 521 700 A
D4: US 5 523 836 A
D5: JP 57 - 101738 A (mit englischem Abstract)
in Betracht gezogen worden.
Im Zurückweisungsbeschluss hat die Prüfungsstelle ausgeführt, dass der Gegen-
stand des Patentanspruchs 1 vom 6. September 2005 durch den Stand der Tech-
D1
finderischen Tätigkeit beruht.
Gegen diesen Beschluss richtet sich die Beschwerde der Anmelderin.
Die Anmelderin verfolgt ihre Patentanmeldung auf der Grundlage der in der münd-
lichen Verhandlung vom 25. März 2010 eingereichten Patentansprüche 1 und 2
weiter.
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Der mit Gliederungspunkten versehene, ansonsten wörtlich wiedergegebene gel-
tende Patentanspruch 1 lautet:
M1
Linsenmesser mit
M2
einer Lichtquelle (20) zum Erzeugen eines Messlichtstrahls,
M3
einer Musterplatte (28), die in einem optischen Pfad (31)
des von der Lichtquelle (20) erzeugten, projizierten Mess-
lichtstrahls angeordnet ist und ein Muster aufweist, das aus
einer Anzahl kreisförmiger Löcher (28b, 28c) von gleicher
Gestalt zusammengesetzt ist, die regelmäßig angeordnet
sind zum Messen der Linsencharakteristik einer zu messen-
den Gegenstandslinse (30),
M4
einer Bildemfangsvorrichtung (35) zum Empfangen von Lin-
sencharakteristik-Messmusterbildern, die durch die Muster-
platte (28) durch Projizieren des Messlichtstrahls auf die
zwischen der Lichtquelle (20) und der Musterplatte (28) in
dem optischen Pfad (31) des projizierten Lichts angeordne-
te Gegenstandslinse (30) erhalten wurden, und
M5
einer Analyseverarbeitungsvorrichtung (41) zum Analysie-
ren der von der Bildempfangsvorrichtung (35) empfangenen
Linsencharakteristik-Messmusterbilder, um eine Kartie-
rungsanzeige einer zweidimensionalen Linsencharakteris-
tikteilung der Gegenstandslinse (30) durchzuführen,
- 5 -
wobei
M6
die Lichtquelle (20) eine erste Lichtquelle (21) zum Erzeu-
gen des Messlichtstrahls
M7
und eine zweite Lichtquelle (23), die getrennt von der ers-
ten Lichtquelle (21) vorgesehen und ausgebildet ist zum Er-
zeugen eines Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahls zum
Bestimmen der Mittenposition der Musterbilder entspre-
chend einer Mittenposition der Musterplatte (28), aufweist,
M8
die Analyseverarbeitungsvorrichtung (41) ausgebildet ist
zum Bestimmen der Mittenposition der Musterbilder auf der
Grundlage von Bildern, die erhalten werden, wenn der Mit-
tenpositionsbestimmungs-Lichtstrahl durch vier der kreisför-
migen Löcher (28b) aus der Anzahl der kreisförmigen Lö-
cher (28b, 28c) hindurchgeht,
M9
die Wellenlänge des Messlichtstrahls unterschiedlich ge-
genüber der des Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahls
ist,
M10
und der Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahl zusätzlich
zum Messen der Linsencharakteristik der Gegenstandslin-
se (30) verwendet wird.
Hinsichtlich des Wortlauts des geltenden Unteranspruchs 2 wird auf den Aktenin-
halt verwiesen.
- 6 -
Die Anmelderin beantragt,
den Beschluss der Prüfungsstelle für Klasse G 01 M des Deut-
schen Patent- und Markenamts vom 6. September 2005 aufzuhe-
ben und das Patent DE 197 58 338 zu erteilen
mit den Patentansprüchen 1 und 2,
der Beschreibung Seiten 5 bis 9, 12 bis 29
und den Figuren 1 bis 10, 11a bis 11f, 12 bis 15 und 16a bis 16d,
jeweils überreicht in der mündlichen Verhandlung.
Zu weiteren Einzelheiten wird auf den Akteninhalt verwiesen.
II.
Die Beschwerde ist zulässig und hat auch insoweit Erfolg, als sie nach Vorlage
neuer Patentansprüche zur Aufhebung des Beschlusses und zur Patenterteilung
führt.
Die geltenden Patentansprüche sind zulässig, denn sie sind in den am Anmelde-
tag eingereichten Unterlagen offenbart. Der geltende Patentanspruch 1 geht ins-
besondere auf die ursprünglichen Patentansprüche 1 und 3 und die ursprüngliche
Beschreibung Seite 22, zweiter Absatz, Seite 23, Zeilen 19 bis 22 und Seite 28,
dritter Absatz, zurück.
Der geltende Patentanspruch 2 geht auf die ursprüngliche Beschreibung Seite 27,
Zeile 31, bis Seite 28, Zeile 9, zurück.
Die Erfindung betrifft Linsenmesser, welche in der Lage sind, eine Linsencharakte-
ristik-Kartierungsdarstellung einer zu prüfenden Gegenstandslinse durchzuführen
(vgl. Seite 5, Zeilen 4 bis 7, der geltenden Beschreibung).
- 7 -
Es ist Aufgabe der Erfindung, einen Linsenmesser zu schaffen, welcher in der La-
ge ist, schnell und genau die Bestimmung oder Spezifizierung der Mittelposition
von Musterbildern entsprechend der Mittelposition einer Musterplatte durchzufüh-
ren (vgl. die geltende Beschreibung Seite 9, dritter Absatz).
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen Linsenmesser mit den Merkma-
len des Anspruchs 1 gelöst (vgl. Seite 9, vierter Absatz, der geltenden Beschrei-
bung).
Nach Neuformulierung des geltenden Patentanspruchs 1 ist der Gegenstand des
geltenden Patentanspruchs 1 neu im Vergleich mit dem entgegengehaltenen
Stand der Technik und beruht auch auf einer erfinderischen Tätigkeit des zustän-
digen Fachmanns, einem mit der Entwicklung von Linsenmessern bzw. Scheitel-
brechwertmessern befassten berufserfahrenem Diplom-Physiker mit umfangrei-
chen Optikkenntnissen.
D2
M1
(vgl. die Figuren 17A und 17B mit Beschreibung Seiten 18 bis 20, light source 90)
M2
einer Musterplatte (hole plate 92), die in einem optischen Pfad (vgl. die Figur 17A)
des von der Lichtquelle (90) erzeugten, projizierten Messlichtstrahls angeordnet ist
und ein Muster aufweist, das (vgl. Seite 19, fünfter Absatz, an array of 40 x 40
holes, typically equally spaced, und die Figur 18B) aus einer Anzahl kreisförmiger
Löcher von gleicher Gestalt zusammengesetzt ist, die regelmäßig angeordnet sind
zum Messen der Linsencharakteristik einer zu messenden Gegenstandslinse (op-
M3
einer Bildemfangsvorrichtung (optical sensing device 94) zum Empfangen von Lin-
sencharakteristik-Messmusterbildern, die durch die Musterplatte (92) durch Proji-
zieren des Messlichtstrahls (vgl. die Figur 17A) auf die zwischen der Lichtquel-
- 8 -
le (90) und der Musterplatte (92) in dem optischen Pfad des projizierten Lichts an-
M4
und einer Analyseverarbeitungsvorrichtung (optical element computation de-
vice 96) zum Analysieren der von der Bildempfangsvorrichtung (94) empfangenen
Linsencharakteristik-Messmusterbilder, um eine Kartierungsanzeige (vgl. die Fi-
gur 16 mit Beschreibung Seite 18, physical topographical map) einer zweidimen-
sionalen Linsencharakteristikverteilung der Gegenstandslinse durchzuführen (=
M5
wobei die Lichtquelle (90) eine erste Lichtquelle (90) zum Erzeugen des Messlicht-
M6
Außerdem ist die Analyseverarbeitungsvorrichtung (vgl. Seite 31) ausgebildet zum
Bestimmen der Mittenposition der Musterbilder auf der Grundlage von Bildern, die
erhalten werden, wenn der Messlichtstrahl, der dabei als Mittenpositionsbestim-
mungs-Lichtstrahl fungiert, durch mehrere der kreisförmigen Löcher (97, 98) aus
der Anzahl der kreisförmigen Löcher (97, 98) hindurchgeht, wobei dabei ein feh-
lendes Loch und der dadurch resultierende Abstand zwischen benachbarten Lö-
M8
D2
zum Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 keine zweite Lichtquelle auf,
die getrennt von der ersten Lichtquelle vorgesehen und ausgebildet ist zum Erzeu-
gen eines (separaten) Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahls zum Bestimmen
der Mittenposition der Musterbilder entsprechend einer Mittenposition der Muster-
M7
da aufgrund der Mittenmarkierung mit einem fehlenden Loch eine zweite Licht-
quelle zur Mittenpositionsbestimmung und damit Mittenmarkierung gar nicht not-
wendig ist.
Außerdem kann somit die Wellenlänge des Messlichtstrahls beim Linsenmesser
D2
M9
- 9 -
ein solcher, wie oben ausgeführt, gar nicht vorhanden ist. Dies ist durch die Druck-
D2
darstellt und eine Unterscheidung eines Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahls
vom Messlichtstrahl durch eine unterschiedliche Wellenlänge zur Mittenmarkie-
rung somit ohnehin überflüssig ist.
D2
sencharakteristik-Messlichtstrahl zum Messen der Linsencharakteristik der Gegen-
standslinse verwendet und nicht noch zusätzlich ein ohnehin nicht vorhandener
M10
Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1 beansprucht ist. Da der Linsencha-
rakteristik-Messlichtstrahl zum Messen der Linsencharakteristik der Gegenstands-
linse ausreicht, ist eine zusätzliche Messung mit einem weiteren Lichtstrahl über-
flüssig und somit für den Fachmann auch nicht nahegelegt. Selbst bei Vorhanden-
sein eines separaten Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahls wäre es für den
Fachmann nicht nahegelegt, diesen ebenfalls ergänzend zum Messen der Linsen-
charakteristik der Gegenstandslinse einzusetzen, da dafür der Linsencharakteris-
tik-Messlichtstrahl ausreicht.
D2
in naheliegender Weise zum Gegenstand des geltenden Patentanspruchs 1, da
D1
gur 2 mit Beschreibung, point light source 41, 600nm), mit einer Wellenlänge, die
unterschiedlich gegenüber einer Wellenlänge eines Messlichtstrahls einer ersten
Lichtquelle ist (light source 31, 500-580nm), zur Mittenpositionsbestimmung zu
verwenden. Dabei wird der Mittenpositionsstrahl durch ein separates zentrales
Loch (vgl. die Figur 3, U) geführt, das eine andere (größere) Gestalt als die umge-
benden Löcher (Figur 2, S, E), die den Linsencharakteristik-Messlichtstrahl passie-
ren lassen, aufweist.
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D1
Mittenpositionsstrahl durch vier der gleichen Löcher, die für den Linsencharakteris-
tik-Messlichtstrahl vorgesehen sind, zu leiten, und die dadurch erhaltenen Muster-
bilder zum Bestimmen der Mittenposition zu verwenden.
D1
Mittenpositionsbestimmungs-Lichtstrahl (Lichtquelle 41, Loch U) zusätzlich zum
Messen der Linsencharakteristik zu der Gegenstandslinse zu verwenden, da hier-
für lediglich der Linsencharakteristik-Messlichtstrahl (Lichtquelle 31, Löcher S, E)
vorgesehen und auch ausreichend ist.
D3
falls keine Anregungen im Hinblick auf den Gegenstand nach dem Anspruch 1 ge-
ben.
Dr. Winterfeldt
Baumgärtner
Dr. Morawek
Dr. Müller